深圳STT赛特-低温存储寿命试验-温度存放测试

实验目的

为了考核低温对试样的影响，确定试样在低温条件下存储的适应性。该实验一般用到高低温 试验箱。

实验原理

低温下电子元器件的电参数会发生变化、材料变脆及其材料冷缩产生应力等。使电子元器件 处于低温环境下一定时间,考核电子元器件的电参数是否发生变化、材料是否变脆、材料冷缩 产生应力有多大等，从而确定电子元器件的抗低温能力。

实验参考标准

JESD22-A119、IEC60068-2-1、GJB1864A-2011

赛特提供的服务有 - 卡板，栈板，托盘，可靠性，包装材料，切片观察，纸箱，拥有CNAS，CMA，出具国家认可的，华南较佳第三方机构，深圳*机构。
 
具体项目有 - 防尘防水测试，导热测试，离子污染度测试，耐破测试，边压测试，抗压测试，振动测试，跌落测试，高低温测试，机械冲击测试，金属材料拉力测试，卡板动态载荷试验，静态载荷试验，堆码试验，剪切试验，角跌落试验，垫坏冲击试验，底铺板挠度试验，含水率，胶合强度，缓冲材料拉伸性能，胶带测试，初粘性测试，持粘性测试，金相，材料，饮用水，螺丝扭力测试，盐雾测试。