低温储存寿命试验 低温储存寿命试验评估方法

低温储存寿命试验 低温储存寿命试验评估方法
低温储存寿命试验标准：JESD22-A119、IEC60068-2-1、GJB1864A-2011

低温储存寿命试验目的：为了考核低温对试样的影响，确定试样在低温条件下存储的适应性。该实验一般用到高低温 试验箱。

低温储存寿命试验原理：低温下电子元器件的电参数会发生变化、材料变脆及其材料冷缩产生应力等。使电子元器件 处于低温环境下一定时间,考核电子元器件的电参数是否发生变化、材料是否变脆、材料冷缩 产生应力有多大等，从而确定电子元器件的抗低温能力。

高温储存寿命试验标准：JESD22-A103、GJB1864A-2011

高温储存寿命试验目的：为了考核高温对试样的影响，确定试样在高温条件下存储的适应性。该实验一般用到高低温 试验箱。

高温储存寿命试验原理;电子元器件在高温环境中，其冷却条件恶化，散热困难，将使器件的电参数发生明显变化或 绝缘性下降。使电子元器件处于高温下一定时间,考核电子元器件的外观与电参数是否发生变 化，从而确定电子元器件的抗高温能力。

高温试验标准：MIL-STD-202Method108A、GJB360B-2009方法108
低温试验标准：GB/T 2423.1，IEC 60068-2-1，EIA 364， MIL-STD-810F等。

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